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扫描电子显微镜的基础知识

更新时间:2026-04-15      浏览次数:17

什么是扫描电子显微镜?

扫描电子显微镜(SEM)是一种电子显微镜,可以通过用电子束照射样品并检测样品发射的次级电子来观察样品表面状况。

通过使用扫描电子显微镜,甚至可以观察到光学显微镜难以观察的微观结构。 因此,它被广泛应用于包括材料工程和生物化学在内的多个领域。

扫描电子显微镜的应用

扫描电子显微镜的放大倍数可提升至数十万倍,分辨率可提升至几纳米。 此外,它具有深焦深度,便于观察样品的不均匀性。

由于光学显微镜的放大倍率极限约为1000倍,分辨率极限约为150纳米,因此可以使用扫描电子显微镜观察到比光学显微镜更高的放大倍率和分辨率。

此外,与光学显微镜获得的图像不同,扫描电子显微镜生成的三维图像具有对比度,使垂直于电子束入射方向的平面变暗,接近平行方向时亮度变亮,因此观察起来直观。

利用这些特性,扫描电子显微镜用于观察各种材料的表面状况,如半导体材料和陶瓷材料,微生物如细菌和病毒,以及生物样品如细胞。 另一方面,透射电子显微镜通常用于观察样品内部结构。

扫描电子显微镜的原理

在扫描电子显微镜中,加速电子束聚焦于样品表面并进行照射,检测和分析当时产生的次级电子(SE)和背散射电子(BSE),通过扫描(扫描)整个观测范围,可以观察样品状态作为图像数据。

通过提高加速电压和增加被辐射电子的能量,分辨率可以提升到几纳米。 增加加速电压会提高分辨率,但过高可能导致样品深处反射电子产生充电(充电)问题,因此通常在几千伏~数十千伏的加速电压下使用。

次级电子是指当电子束撞击时,从样品表面附近喷射出来的电子。

电子的状态会根据样品的不均匀度变化,这在通过测量次级电子获得的图像数据中形成了对比,从而可以观察到表面的不规则性和粒子形状。

另一方面,反散射电子是指在电子束与原子相互作用时被电子束反射的电子。

不同原子对发射电子的反射率不同。 测量反散射电子可以增强每种原子类型的对比度,并观察样品中原子的分布。

扫描电子显微镜的结构。

扫描电子显微镜主要由发射电子束的电子枪、将电子束聚聚在样品表面的电子透镜,以及检测次级和反散射电子的探测器组成。

电子枪有三种类型:热离子发射枪、场发射枪和肖特基枪,每种电子枪j具有不同的特性。 电子透镜通常通过通过线圈传递电流来控制电子束,有多种类型,如透镜外透镜和透镜内透镜。

扫描电子显微镜内部保持在约10^-4 Pa的高真空状态,但近年来,它已被开发出即使在低真空(约10^2 Pa)和大气压下也能测量的设备,并且常用于生物领域,使用含大量水分的样品。

 关于扫描电子显微镜的额外信息

1. 扫描电子显微镜测量样品制备

扫描电子显微镜可以测量各种样品,但有些样品可能需要适当的样品准备和测量条件。

绝缘样品 使用
绝缘样品时,样品表面可能因电子束照射而带电。 当发生静电荷时,图像会被扰动或观察到异常对比度,因此可能无法获得准确的图像数据。 为防止电气化,需要采取薄溅射和金属涂层、低加速电压观测以及低真空观测等措施。

在高真空条件下蒸发或升华的样品 在
高真空条件下的蒸发和升华不仅改变样品的结构和形状,还可能导致设备故障。 为防止这种情况,采取低真空测量等措施是有效的。 此外,含有大量水分的生物样本即使在低真空下也常需单独预处理。

磁性样品 使用
磁性样品时,如果电子透镜与样品距离较近,样品会被磁化,调整电子束变得困难,大样本可能会从样品台上脱落并粘附在透镜区域。 为防止此问题,样品和透镜必须用螺丝或胶粘剂使用扫描电子显微镜(如透镜外法)固定。

如果你想观察样品内部,如果想在不使用下文描述
的透射模式的情况下观察样品内部,就必须使用聚焦离子束(FIB)处理样品并观察截面。

2. 安装在扫描电子显微镜中的主分析仪

当加速电子束被照射到样品时,可以获得透射电子、X射线、阴极发光和吸收电子等信号,同时还能获得次级电子和反散射电子。 可能会安装分析仪来检测这些信号。

透射电子当样品
厚度足够薄,或在细颗粒等材料中,部分被照射的电子可以被检测为透射电子。 它通常通过单独的测量设备测量,如透射电子显微镜或扫描透射电子显微镜(STEM),但有时会以透射模式安装在扫描电子显微镜中。 可以观察扫描电子显微镜不擅长的内部结构。

X射线当
电子射线照射到原子时,除了电子射线外,还可能发射X射线。 由于每个原子具有独特的能量,通过探测发射的X射线可以识别样品表面存在的原子类型。

佩戴并测量X射线探测器时,不仅会对样品表面原子的组成进行分析,还会对图像数据进行元素映射,以显示样品中哪些原子存在。 X射线探测器有两种类型:能量色散X射线探测器(EDS)和波长色散X射线探测器(WDS),每种探测器具有不同的特性,应根据用途选择。

阴极发光
阴极发光是指当电子束照射到样品时发出的光,通过探测它可以测量样品的晶体性质,如晶体缺陷、杂质和载流子浓度。

你可以通过添加其他选项来添加各种功能。 与使用单独测量设备相比,其优点是可以在观察扫描电子显微镜图像时选择测量位置,从而实现更详细的测量。

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